上海珩澤科技有限公司
Shanghai HengzeLab Co., Ltd.
納眾智，方成大器
行久遠(yuǎn)，終為王者
研發(fā)型UMC5
德國(guó)Stephan真空攪拌器
食品工業(yè)設(shè)備的全球領(lǐng)導(dǎo)者
· 靈活拓展性
· 超乎想象的工藝效果
· 從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到生產(chǎn)的全產(chǎn)業(yè)鏈覆蓋
HAAKE流變儀，大家之選
Better Service, Better Lab
產(chǎn)品分類 Product
Park NX15不僅非常適合共享實(shí)驗(yàn)室里的研究人員處理各種樣品、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)，也同樣適合故障分析工程師處理晶圓的系統(tǒng)性工作。
Park NX15不僅非常適合共享實(shí)驗(yàn)室里的研究人員處理各種樣品、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)，也同樣適合故障分析工程師處理晶圓的系統(tǒng)性工作。
便捷的樣品測(cè)量（包含多樣品掃描）
一次可對(duì)多個(gè)樣品自動(dòng)成像
設(shè)計(jì)的多樣本卡盤，一次至多可裝載9個(gè)單獨(dú)樣品（可選）
全電動(dòng)XY樣品臺(tái)行程可達(dá) 150 mm x 150 mm
通過(guò)消除掃描器串?dāng)_進(jìn)行精準(zhǔn)的XY掃描
獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器
正交XY掃描
無(wú)需軟件處理即可保留真實(shí)可信的樣品表面形貌信息
真正非接觸模式實(shí)現(xiàn)探針使用壽命、成像分辨率和樣品的有效保護(hù)
快速的Z伺服速度，實(shí)現(xiàn)真正的非接觸模式
針尖磨損微小化，可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間的高質(zhì)量和高分辨率成像
多種模式和選項(xiàng)
全面性的測(cè)量模式和表征方法
可實(shí)現(xiàn)可選配件和升級(jí)擴(kuò)展功能
用于故障分析(FA)的精密電學(xué)測(cè)量
Park NX15 參數(shù)
掃描器
Z掃描器
柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器
Z掃描范圍：15μm(30 μm可選)
XY掃描器
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍：100μmx 100μm
光學(xué)
帶視覺相機(jī)的同軸光學(xué)系統(tǒng)
物鏡：10x放大
視場(chǎng)：
480 μm X 360 μm(默認(rèn) 120 萬(wàn)像素視覺相機(jī))
840 μm X 630 μm( 默認(rèn) 500 萬(wàn)像素視覺相機(jī))
電路系統(tǒng)
信號(hào)處理
ADC: 用于 X,Y和Z 掃描器位置傳感器的 24 位 ADC
DAC: 用于 X,Y和Z 掃描器定位的 20 位 DAC
樣品臺(tái)
Z位移臺(tái)行程范圍：25.5 mm
XY位移臺(tái)行程范圍：150 mm X 150mm
樣品大?。?/span>可滿足150 mm wafer 樣品
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